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高性能耐用型解决方案，适用于

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高性能
解决方案

微型耐用型
解决方案

全面系统
支持

安全和安保

测试和测量

数据采集和控制

检查和检测

信号和电源发生器

Samtec提供行业领先的信号完整性专业知识，以帮助优化整个高性能系统。

Samtec产品经测试符合或超越行业标准，以确保在各种应用中的质量和性能。

严苛环境测试是Samtec的一项举措，旨在对我们的产品进行超出典型行业标准和规范的测试，该测试当中的许多标准是根据生产耐用型产品行业的共同要求制定的。我们的一些产品还会经过附加测试，以确保它们足以适用于工业、军事、汽车、太空和其他极端应用。

测试包括：

Samtec的SET产品已获得批准用于NASA的D级任务，此类任务需要为LEO卫星、SmallSats、CubeSats和其他太空探索应用提供高可靠性、快速转向和经济高效的解决方案。

Samtec还利用NASA放气数据确定特定产品是否符合NASA的ASTM E595-77/84/90测试要求。访问outgassing.nasa.gov获取数据。

请访问严苛环境测试页面，或联系 [email protected] 了解更多信息。

测试	SET	E.L.P.™	DQT
气密	X*	X*	N/A
法向力	X*	X*	X
热老化	X*	X*	X
对接/拆拔/耐用性（240小时）	X（100% RH、250个循环）	X*（90-98% RH、100个循环）	X（90-98% RH、100个循环）
IR / DWV	X（70,000英尺高程）	X*	X
CCC	X*	X*	X
机械冲击/随机振动/LLCR和纳秒级事件检测	X（40 G峰值、11 ms、半正弦和12gRMS、5 - 2,000 Hz、1小时/轴）	X*（100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴）	X（100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴）
温度循环（500个周期）	X	N/A	N/A
非工作类温度	X	N/A	N/A
静电放电 (ESD)	X	N/A	N/A
10年混合流动气体腐蚀测试（MFG）	N/A	X	N/A
对接次数（250至2,500次）	N/A	X	N/A
*作为初始设计资质测试（DQT）的一部分完成。E.L.P.™和SET测试在DQT以外进行。

E.L.P.^™产品依照严格的标准进行了测试，以评估端子在模拟的贮藏和现场条件下的耐受性。

有关Samtec的E.L.P.^™计划详情、合格产品与测试结果列表，请访问samtec.com/ELP或发送电子邮件至客户工程支持小组： [email protected]

测试	SET	E.L.P.™	DQT
气密	X*	X*	X
法向力	X*	X*	X
热老化	X*	X*	X
对接/拆拔/耐用性（240小时）	X（100% RH、250个循环）	X*（90-98% RH、100个循环）	X（90-98% RH、100个循环）
IR / DWV	X（70,000英尺高程）	X*	X
CCC	X*	X*	X
机械冲击/随机振动/LLCR和纳秒级事件检测	X（40 G峰值、11 ms、半正弦和12gRMS、5 - 2,000 Hz、1小时/轴）	X*（100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴）	X（100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴）
温度循环（500个周期）	X	N/A	N/A
非工作类温度	X	N/A	N/A
静电放电 (ESD)	X	N/A	N/A
10年混合流动气体腐蚀测试（MFG）	N/A	X	N/A
对接次数（250至2,500次）	N/A	X	N/A
*作为初始设计资质测试（DQT）的一部分完成。E.L.P.™和SET测试在DQT以外进行。

所有Samtec系列都需经过设计资质测试（DQT），该测试包括：

测试	SET	E.L.P.™	DQT
气密	X*	X*	X
法向力	X*	X*	X
热老化	X*	X*	X
对接/拆拔/耐用性（240小时）	X（100% RH、250个循环）	X*（90-98% RH、100个循环）	X（90-98% RH、100个循环）
IR / DWV	X（70,000英尺高程）	X*	X
CCC	X*	X*	X
机械冲击/随机振动/LLCR和纳秒级事件检测	X（40 G峰值、11 ms、半正弦和12gRMS、5 - 2,000 Hz、1小时/轴）	X*（100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴）	X（100 G峰值、6 ms、半正弦和7.56gRMS平均值、2小时/轴）
温度循环（500个周期）	X	N/A	N/A
非工作类温度	X	N/A	N/A
静电放电 (ESD)	X	N/A	N/A
10年混合流动气体腐蚀测试（MFG）	N/A	X	N/A
对接次数（250至2,500次）	N/A	X	N/A
*作为初始设计资质测试（DQT）的一部分完成。E.L.P.™和SET测试在DQT以外进行。