测试和排除故障产品
BullsEye®测试点系统与传统的SMA测试系统相同，可以减少电路板走线长度、提高性能、降低成本并提供四倍于高带宽的信号。对同轴电缆、双绞线和带护罩双绞线设计的电缆系统进行测试和排除故障，以满足苛刻的仿真要求。
仿真仿真
对电缆系统进行测试并排除故障，旨在满足苛刻的仿真要求。
特色
- 50 ohm coax, 100 ohm双芯和带护罩双绞线电缆组件
- 单端和差分对信号路由
- 多种间距可选
- 坚固耐用特点，如螺钉紧固、应力消除件、锁和插销
产品
- ERCD
- ERDP
- ECDP
- ERM8
- ERF8
- HSEC8-DV
- SEAC
- SEAF
- SEAF-RA
- EQRD
- QRF8
- QRM8
- HQCD
- HQDP
- EQCD
- EQDP
- QTH
- QSH
- QTH-DP
- QSH-DP
- QTE
- QSE
- QTE-DP
- QSE-DP
- HHSC
- SSW
- SSQ
- ESW
- ESQ
- BCS
- SSM
- TSW
- MTSW
- TSM
- TSS
- ZSS
- FCS8
- CJT-TH
- CJT-BH
- PCIE
- PCIEC
- FCF8
- C28S
- PCIE-LP
- ERF8-S
ERCD
0.80 mm Edge Rate®同轴电缆组件
ERDP
0.80 mm Edge Rate®双芯电缆组件
ECDP
0.80 mm侧边卡双芯电缆组件
ERM8
0.80 mm Edge Rate®耐用型高速针脚
ERF8
0.80 mm Edge Rate®耐用型高速插座
HSEC8-DV
0.80 mm高速侧边卡连接器，垂直
SEAC
.050" SEARAY™高速高密度阵列电缆组件
SEAF
.050" SEARAY™高速高密度端子开放式端子阵列插座
SEAF-RA
SEARAY™高速直角开放式端子阵列插座，.050"间距
EQRD
0.80 mm Q Rate®同轴电缆组件
QRF8
0.80 mm Q Rate®细长型接地平面插座
QRM8
0.80 mm Q Rate®细长型接地平面插头
HQCD
0.50 mm Q Strip®同轴电缆组件
HQDP
0.50 mm Q Pairs®双芯电缆组件
EQCD
0.80 mm Q Strip®同轴电缆组件
EQDP
0.80 mm Q Pairs®双芯电缆组件
QTH
0.50 mm Q Strip®高速接地平面针脚料带
QSH
0.50 mm Q Strip®高速接地平面插座料带
QTH-DP
0.50 mm Q Pairs®高速接地平面针脚料带，差分对
QSH-DP
0.50 mm Q Pairs®高速接地平面插座料带，差分对
QTE
Q Strip®高速接地平面插头，0.80mm间距
QSE
0.80 mm Q Strip®高速接地平面插座料带
QTE-DP
0.80 mm Q Pairs®高速接地平面针脚料带，差分对
QSE-DP
0.80 mm Q Pairs®高速接地平面插座料带，差分对
HHSC
.100" JTAG带状同轴电缆组件
SSW
Tiger Buy™插座料带配PCB尾端，100"间距
SSQ
Tiger Buy™插座料带配fang'xing尾端，0.100"间距
ESW
.100"加高插座料带
ESQ
加高插座料带，0.100"间距
BCS
直通插座料带，0.100"间距
SSM
表面安装PCB插座料带，100"间距
TSW
传统PCB插头料带，0.100"间距
MTSW
可变高度PCB插头料带，0.100"间距
TSM
.100" 表面安装端子料带
TSS
.100"带护罩针脚料带
ZSS
.100"带护罩加高针脚料带
FCS8
0.80 mm高速经济型微型同轴电缆，PCB插座
CJT-TH
圆形射频双芯插孔、通孔
CJT-BH
圆形射频双芯插孔、隔板通孔
PCIE
1.00 mm PCI Express®第3代卡缘连接器
PCIEC
PCI Express®跳线电缆组件
FCF8
0.80 mm高速经济型微型同轴电缆组件
C28S
圆形射频带护罩双绞线双芯电缆组件
PCIE-LP
轻薄型PCI Express®第4代连接器
ERF8-S
0.80 mm Edge Rate®耐用型高速插座，带护罩
Bulls Eye®BullsEye®射频高性能测试达到90 GHz
Bulls Eye®高性能测试组件采用了高密度的节省空间设计，能够在测试和测量应用中实现更小的评估板尺寸和更短的跟踪长度。Bulls Eye®块压缩安装于电路板上，可直接放置在被测试的SerDes附近。无焊接设计降低了整体成本，而且易于在实验室环境中使用。
特色
- 90 GHz、70 GHz、50 GHz或40 GHz测试组件
- 压缩安装于电路板上，可直接放置在被测试的SerDes附近
- 无焊接设计降低成本
- 易于在实验室环境中使用
- 微带/CPW或带线PCB传输
- 与仪器连接的终端2： 1.00毫米，1.85毫米，2.40毫米或2.92毫米
- 高密度、省空间设计
- 单排或双排
- 适用于性能验证的测试板
- 射频团队：专门的射频工程师将为您提供个人支持，以满足特定的射频挑战
产品
- BE90A
- BE70A
- BE40A
BE90A
90 GHz，Bulls Eye®高性能测试组件
BE70A
70 GHz，Bulls Eye®高性能测试组件
BE40A
50 GHz，Bulls Eye®高性能测试组件
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